高频测试探针专为半导体高速与 RF 设备检测设计，优化结构与材质，间距 0.30–1.27mm，接触电阻低，适合高频稳定测试与长寿命使用。
产品特点：
Kelvin 探针采用四线测量结构，成对使用，精准消除导线电阻影响，适用于高精度电阻、电压与小信号测试，保障功率与模拟芯片测量准确。
产品特点：
超精细探针支持 0.15–0.3mm 极小间距，专为 FPD、WLCSP 等微封装芯片设计，结构精密、接触稳定，满足超细回路高可靠电气连接需求。
产品特点：
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